HY230絕緣電阻測(cè)試儀 *1. 負(fù)載特性好。本儀器內(nèi)部有一個(gè)穩(wěn)定的直流高壓發(fā)生器。 2. 測(cè)量時(shí)不須調(diào)零。使用簡(jiǎn)單、方便。
HY230絕緣電阻測(cè)試儀 * 一、功能及特點(diǎn) 1. 負(fù)載特性好。本儀器內(nèi)部有一個(gè)穩(wěn)定的直流高壓發(fā)生器。 2. 測(cè)量時(shí)不須調(diào)零。使用簡(jiǎn)單、方便。 3. 計(jì)時(shí)準(zhǔn)確。具有實(shí)時(shí)時(shí)鐘控制,儀器在產(chǎn)生高壓并進(jìn)行測(cè)量的同時(shí)開始計(jì)時(shí),所以讀取的15秒和60秒、10分鐘絕緣電阻值準(zhǔn)確。 . 4.短路電流大。使吸收電流和充電電流迅速減少,使大容量設(shè)備很快測(cè)得可靠的絕緣電阻值。 5. 抗干擾能力強(qiáng)。由于儀器采用單片機(jī)為核心,消除了磁耦合引起的誤差;再有儀器內(nèi)部采取濾波電路,消除了帶電設(shè)備和被測(cè)設(shè)備之間的電容耦合。因而測(cè)量比較準(zhǔn)確。 6.完善的安全措施。 極化指數(shù)測(cè)量結(jié)束后自動(dòng)停止高壓輸出,并長(zhǎng)時(shí)間蜂鳴提起注意。 7. 大屏幕漢字液晶顯示,人機(jī)界面良好。 HY230絕緣電阻測(cè)試儀 * 二、技術(shù)條件及指標(biāo) 1. 電源電壓:AC220V±10% 2. 輸出電壓:DC500V/1000V/2500V/5000V±10% 3. 短路電流:>2.5mA 4. 量 程 200KΩ-100GΩ 5. 環(huán)境溫度:-10℃-+50℃ 6. 環(huán)境濕度:≤75%RH 7. 測(cè)量精度:300KΩ-3GΩ (500V)5% 1MΩ-5GΩ (1000V)5% 3MΩ-50GΩ (2500V)5% 11MΩ-100GΩ (5000V)5% 8. 電壓紋波:測(cè)試電壓紋波含量不大于3%,使測(cè)試更準(zhǔn)確. 9. 負(fù)載能力: 10.測(cè)量方式:實(shí)時(shí)測(cè)量,從15秒開始每5秒進(jìn)行一次測(cè)量顯示。 11. 顯示方式:漢字液晶顯示被測(cè)電阻值、吸收比、極化指數(shù)。自動(dòng)記憶年、月、日、時(shí)、分、秒。 12. 絕 緣:儀表本體與交流電源初級(jí)引線之間的絕緣電阻值≥300GΩ。 13. 外形尺寸:300×230×120 。 14. 重 量:機(jī)殼為工程塑料,4公斤 三、測(cè)試原理 數(shù)字兆歐表的工作原理是由機(jī)內(nèi)電源經(jīng)變換產(chǎn)生的直流高壓由E級(jí)出經(jīng)被測(cè)試品到達(dá)L級(jí),從而產(chǎn)生一個(gè)從E到L級(jí)的電流,采用電流電壓法變換、計(jì)算將被測(cè)的絕緣電阻值測(cè)量并顯示出來。根據(jù)測(cè)試電源和采樣電路串聯(lián)接法的上下相對(duì)位置不同,通常有低電位屏蔽組構(gòu)制式和高電位屏蔽組構(gòu)制式,本儀表采用高電位屏蔽見圖左圖。兆歐表自身產(chǎn)生一個(gè)實(shí)驗(yàn)電壓,并施加一試品,該電壓與儀表內(nèi)部測(cè)量回路和外部被測(cè)試品組成閉合測(cè)量回路,回路電流與試品的絕緣狀態(tài)密切相關(guān),在測(cè)量電路中采樣電阻以電壓的形式檢出該電流。在一定條件下,即可根據(jù)該采樣電壓換算出試品的絕緣電阻值。 圖中兆歐表的測(cè)試電壓為Uc,Ri為測(cè)試電壓的等效內(nèi)阻,Rc為兆歐表的測(cè)量采樣電阻,Rb為兆歐表的保護(hù)電阻,Rx表示試品的待測(cè)絕緣電阻,由圖可知,測(cè)量回路的采樣電壓為 Uo =(Uc * Rc)/ (Ri+Rc+Rb+Rx) (1) 在設(shè)計(jì)是滿足Rx>>(Ri+Rc+Rb) (1) 簡(jiǎn)化為Uo =(Uc * Rc)/ Rx (2) Rx=(Uc * Rc)/Uo 普通兆歐表實(shí)驗(yàn)電壓等于或低于1000V,只有兩個(gè)接線柱,被測(cè)試品跨接在試品兩端即可,實(shí)驗(yàn)電壓通常以負(fù)電壓的形式通過線路端鈕施加于試品.高壓兆歐表實(shí)驗(yàn)電壓高于1000V,有三只外引線端鈕,即線路端鈕L接地端鈕E和試品表面泄露電流屏蔽通路端鈕G. 實(shí)驗(yàn)電壓也通常以負(fù)電壓的形式通過線路端鈕施加于試品,當(dāng)測(cè)試絕緣電阻高500MΩ的試品時(shí),此時(shí)試品套管等引線端子至外殼的表面漏電流與試品絕緣介質(zhì)電流相比可能不可忽略.為防止表面漏電流的影響,常在試品表面設(shè)置保護(hù)環(huán),并與G端鈕相連,作為漏電流的旁路通道,使表面漏電流直接流回測(cè)試電源,不經(jīng)過采樣電阻,消除漏電流引起的測(cè)量誤差. |
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